You are viewing a single comment's thread from:RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4View the full contextosita21 (66)in #stem-espanol • 7 years ago Excelente la comunidad stem-espanol creciendo.